*001745331
*00520250613134517.0
*007ta
*008110826r19921992no            000 0 eng
*00901269cam a2200289 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259576392
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999301966274702201
*035  $a(NO-LaBS)14320075(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)930196627
*035  $a930196627-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a537.533:535.4
*1001 $aHolmestad, Randi$0(NO-TrBIB)90612495$_100155700
*24510$aEnergy filtering of CBED patterns :$ba peels based method$cR. Holmestad, K. Marthinsen and R. Høier
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Applied Physics$c1992
*300  $aBl. 185-[186]$bill.
*4901 $aSINTEF report$vSTF19 A92022
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2016-12-13
*534  $aFotokopi av: European Congress on Electron Microscopy (10 : 1992 : Granada). Electron microscopy. B. 1
*650 7$aElektronstråler$xDiffraksjon$2tekord$_188476400
*7001 $aHøier, Ragnvald$d1938-2009$0(NO-TrBIB)90095307$_35617200
*7001 $aMarthinsen, Knut$0(NO-TrBIB)90095306$_37051300
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A92022$w998110210764702201$_14526900
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2016121348516$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999301966274702202$b2021-11-14T20:46:21Z$z999301966274702202
^