*001849388
*00520250613135302.0
*007ta
*008110826s1994    no            000 0 eng
*00901063cam a2200265 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259585316
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999418423394702201
*035  $a(NO-LaBS)13518173(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)941842339
*035  $a941842339-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a061.6:538.9
*1102 $aSINTEF$bAnvendt fysikk$0(NO-TrBIB)90401416$_35224100
*24510$aAnnual report for SINTEF, Applied Physics$c[R. Høier ... [et al.]]
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Applied Physics$c1994
*300  $a14 s.$bill.
*4901 $aSINTEF report$vSTF19 A94009
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2016-11-02
*650 7$aFaste stoffers fysikk$xForskning$2tekord$_187302000
*7001 $aHøier, Ragnvald$d1938-2009$0(NO-TrBIB)90095307$_35617200
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A94009$w998110210764702201$_14526900
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2016110248265$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999418423394702202$b2021-11-14T20:54:05Z$z999418423394702202
^