*001875749
*00520250613134515.0
*007ta
*008110826s1992    no            000 0 eng
*00901067cam a2200253 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259576376
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999301958924702201
*035  $a(NO-LaBS)14882301(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)930195892
*035  $a930195892-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a537.533:535.4
*24500$aSimulated 2-dimensional convergent beam patterns :$ba method for accurate determination of structure parameters$cR. Høier ... [et al.]
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Applied Physics$c1992
*300  $a[3] bl.
*4901 $aSINTEF report$vSTF19 A92020
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2017-01-06
*650 7$aElektronstråler$xDiffraksjon$2tekord$_188476400
*7001 $aHøier, Ragnvald$d1938-2009$0(NO-TrBIB)90095307$_35617200
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A92020$w998110210764702201$_14526900
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2017010648072$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999301958924702202$b2021-11-14T20:55:52Z$z999301958924702202
^