*001205593
*00520250613133552.0
*007cr
*007ta
*008110826s1990    no            000 0 eng
*00901142cam a2200289 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259560097
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999100616374702201
*035  $a(NO-LaBS)14761643(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)102391734
*035  $a(NO-TrBIB)910061637
*035  $a910061637-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a539.27
*1001 $aHøier, Ragnvald$d1938-2009$0(NO-TrBIB)90095307$_35617200
*24510$aDetermination of phases with electron diffraction methods$cRagnvald Høier and Knut Marthinsen
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Applied Physics$c1990
*300  $a[2] bl.
*4901 $aSINTEF report$vSTF19 A90023
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2010-09-28
*650 7$aMolekylstruktur$xElektrondiffraksjon$2tekord$_186697300
*7001 $aMarthinsen, Knut$0(NO-TrBIB)90095306$_37051300
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A90023$w998110210764702201$_14526900
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2010092808003$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999100616374702202$b2021-11-14T19:56:50Z$z999100616374702202
^