An Infrared ellipsometer for the study of surfaces, thin films and superlattices
J. Bremer ... [et al.]Inngår i serie: SINTEF report (STF19 A91004)
Bok Engelsk utgitt 1991
Bok Engelsk utgitt 1991
Ledig
- Automatlager: 1 av 1 ledig
*001236252 *00520250613133638.0 *007ta *008910607s1991 no 000 0 eng *00901014cam a2200253 c 4500 *019 $bl *020 $a8259563460 *035 $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999104068394702201 *035 $a(NO-LaBS)13784724(bibid) *035 $a(NO-TrBIB)910406839 *035 $a910406839-47bibsys_network *040 $aNO-OsNB$bnob$ekatreg *080 $a681.785.3 *24503$aAn Infrared ellipsometer for the study of surfaces, thin films and superlattices$cJ. Bremer ... [et al.] *260 $aTrondheim$bSINTEF, Applied Physics$c1991 *300 $a21, [9] bl.$bill. *4901 $aSINTEF report$vSTF19 A91004 *533 $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2016-12-12 *650 7$aEllipsometri$2tekord$_188290400 *7001 $aBremer, Johannes$0(NO-TrBIB)90069366$_16876300 *830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A91004$w998110210764702201$_14526900 *85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2016121248528$yNettbiblioteket$zDigital representasjon *901 $a80 *999 $aoai:nb.bibsys.no:999104068394702202$b2021-11-14T19:59:40Z$z999104068394702202 ^