Scanning Electron Microscopy (SEM) bilder av ulike RDX kvaliteter
Ove Gunnar NevstadInngår i serie: FFI rapport
Nevstad, Gunnar Ove Bok Bokmål utgitt 2002
Nevstad, Gunnar Ove Bok Bokmål utgitt 2002
Ledig
- Automatlager: 1 av 1 ledig
*001674182 *00520250613115330.0 *007ta *008110826s2002 no 000 u nob d *00900975cam a2200253 c 4500 *019 $bl *020 $a8246407376$qh. *035 $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)990316413424702201 *035 $a(NO-LaBS)14979056(bibid) *035 $a(NO-TrBIB)031641342 *035 $a031641342-47bibsys_network *040 $aNO-TrBIB$bnob$ekatreg *1001 $aNevstad, Gunnar Ove$d1956-$0(NO-TrBIB)90214587$_12443500 *24510$aScanning Electron Microscopy (SEM) bilder av ulike RDX kvaliteter$cOve Gunnar Nevstad *260 $aKjeller$bFFI$c2002 *300 $a51 s.$bill. *4901 $aFFI rapport *500 $aBestillingsnr : FFI/RAPPORT-2002/04926 *533 $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2012-08-02 *7760 $tScanning Electron Microscopy (SEM) bilder av ulike RDX kvaliteter$w990700723024702201 *830 0$aFFI rapport$_11798900 *85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2012080208261$yNettbiblioteket$zDigital representasjon *901 $a80 *999 $aoai:nb.bibsys.no:990316413424702202$b2021-11-14T20:40:43Z$z990316413424702202 ^